ÏÐÎÈÇÂÎÄÈÒÅËÈ
ÂÅÄÓÙÈÅ ÌÈÐÎÂÛÅ ÔÈÐÌÛ, ÏÐÎÈÇÂÎÄßÙÈÅ ÏÎÐÒÀÒÈÂÍÛÅ ÏÐÈÁÎÐÛ ÄËß ÍÅÐÀÇÐÓØÀÞÙÅÃÎ ÊÎÍÒÐÎËß È ÈÇÌÅÐÅÍÈÉ ÎÔÈÖÈÀËÜÍÛÌ ÏÐÅÄÑÒÀÂÈÒÅËÅÌ ÊÎÒÎÐÛÕ ÍÀ ÒÅÐÐÈÒÎÐÈÈ ÐÎÑÑÈÈ È ÑÒÐÀÍ ÑÍà ßÂËßÅÒÑß ÇÀÎ "ÌÏ ÄÈÀÃÍÎÑÒ"
MIKRON (ÑØÀ) | Ïèðîìåòðû, êàëèáðîâî÷íûå èíñòðóìåíòû äëÿ ÈÊ ïðèáîðîâ (÷åðíûå òåëà)
|
PANAMETRICS-NDT™(ÑØÀ) | Óëüòðàçâóêîâûå äåôåêòîñêîïû, óëüòðàçâóêîâûå òîëùèíîìåðû, ìàãíèòíûå òîëùèíîìåðû, ïüåçîýëåêòðè÷åñêèå ïðåîáðàçîâàòåëè, ãåíåðàòîðû/ïðèåìíèêè, ñêàíèðóþùèå ñèñòåìû, ýíäîñêîïû.
|
FUJI TECOM (ßïîíèÿ) | Êîððåëÿöèîííûå è àêóñòè÷åñêèå òå÷åèñêàòåëè äëÿ ïîäçåìíûõ êîììóíèêàöèé, òðóáî-êàáåëåèñêàòåëè
|
CHAUVIN ARNOUX (Ôðàíöèÿ) | Ýëåêòðî-èçìåðèòåëüíûå ïðèáîðû, ïðèáîðû äëÿ èçìåðåíèÿ ôèçè÷åñêèõ âåëè÷èí
|
UE SYSTEMS (ÑØÀ) | Óëüòðàçâóêîâûå ëîêàòîðû íåãåðìåòè÷íîñòè ñîñóäîâ ïîä äàâëåíèåì, åìêîñòåé è òðóáîïðîâîäîâ
|
L. H. Testing Instruments Co., Ltd. | Òâåðäîìåðû |
EFER ENDOSCOPY | Ïðîìûøëåííûå ýíäîñêîïû |
|
